教育领域重大设备更新实施方案设备采购资料
(GDPT-900A变温压电D33测试仪，铁电，介电)
高校、职业院校的设备更新项目批复通知GDPT-900A变温压电D33测试仪，铁电，介电。具体资料和技术如下：
产品名称 | 招标技术参数 |
GDPT-900A型变温压电d33测量系统主要介绍 | GDPT-900A型变温压电d33测量系统是我院研制的即可低温测试D33系数，又可以高温测试D33系数。主要是针对高低温压电陶瓷材料和薄膜材料的测试。 二、主要应用领域：无损检测超声检测，医疗超声检测，航空航天，石油天然器，汽车物联网，工业 |
GDPT-900A型变温压电d33测量系统主要技术参数 | 1、d33测量范围：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC) 2、力显示：0.01-4N 3、电源：电压220V 4、温度范围：温度-100℃至+500℃ 5、温控：温度显示0.01℃，温度控制±0.1℃，温度漂移优于±0.1℃内，超调≤0.1℃。 6、升温斜率：0.00至5.00℃/min，典型值2.00℃/min。 7、间隔保温：0.10至50.00℃/点，保温5分钟即可达到温度稳定状态。 8、样品夹具：夹持双面电极样品，直径小于30mm，厚度小于5mm。 9、测量环境：低温、高温、空气等。 10、电极材料：耐高温电极。 11、制冷方式：液氮控制系统 12、显示：液晶显示 13、采集方式：USB2.0高速数据 14、总重量: 15kg左右。 15、软件：专用软件自动测试温度与压电系数的关系变化 |
GWTF-300高温铁电材料测量系统 | GWTF-300高温铁电材料测量系统是一套建立在高温高压下的铁电测量系统，旨在针对一些特殊的要求材料需要在高温下测量而研发的一套铁电测量系统。该系统不仅仅在温度上将实现了高温测试，而且在电压和频率上进行了提高，对我们的铁电材料研究和测试带来更加重要的帮助，该系统可以测量铁电材料的电滞回线，饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流、疲劳、保持、I-V和开关特性等性能的测试。 |
GWTF-300高温铁电材料测量系统技术指标 | 1.输出信号电压：：0-4000/5000/6000/10000多种可定制 2.输出信号频率：0.2到100Hz（陶瓷、单晶），1到1kHz(薄膜） 3.电容范围：电流0到±6mA（陶瓷、单晶），±50mA(薄膜）连续可调,: ≤1%。 4.电流范围: 1nA～10A ,: ≤1%。 5、温度测量范围:0-200℃ 6. 匹配高温电致应变测试模块、夹具及自动采集软件。 7.测试速度：测量时间《5秒/样品?温度点 8. 样品规格：块体材料尺寸：直径2-100mm，厚度0.1-10mm，薄膜：直径：1-60mm 9. 数据采集分析软件： 能画出铁电薄膜的电滞回线，定量得到铁电薄膜材料的饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流等参数;可以进行铁电薄膜材料的铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试，电阻测量，漏电流测量。 10、控制方式：计算机实时控制、实时显示、实时数据计算、分析与存储 11、软件采集：自动采集软件，分析可以兼容其他相关主流软件。 |
GWJDN-1000型宽频高温介电测量系统主要技术参数 | GWJDN-1000型宽频高温介电测量系统 关键词：高温介电， GWJDN-1000型高温介电测量系统（2019款）高温介电测量系统应用于高温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析，通过配置不同的测试设备，完成不同参数的测试。是高温介电测试系统测试装置，是国家科研院所和高等学府的重要材料测试设备。 一、主要用途： 1、测量以下参数随温度（T）、频率（f）、电平（V）、偏压（Vi）的变化规律： 2、测量电容（C）、电感（L）、电阻（R）、电抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、电导（G）、电纳（B）、导纳（Y）、损耗因子（D）、品质因素（Q）等参数， 3、同时计算获得反应材料导电、介电性能的复介电常数（εr）和介质损耗（D）参数。 4、可测试低温环境下材料、器件的介电性能 5、可以根据用户需求，定制开发居里温度点Tc、机电耦合系数Kp、机械品质因素Qm及磁导率μ等参数的测量与分析。系统集低温环境、温度控制、样品安装于一体；具有体积小、操作简单控温高等特点。 二、主要技术参数： 主要技术参数： 1、温度范围： 室温-1000℃ 2、测温： 0.1℃ 3．升温速度： 1—20℃/min 4、控温模式： 程序控制，提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式 5、通讯接口： RS-485 8、电极材质： 铂铱合金 9、上电极： 直径1.6mm球头电极，引线带同轴屏蔽层 10、下电极：直径26.8mm平面电极，引线带同轴屏蔽层 11、保护电极： 带保护电极，消除寄生电容、边界电容对测试的影响 12、电极干扰屏蔽:电极引线带同轴屏蔽，样品平台带屏蔽罩 13、夹具升降控制： 带程序和手动控制，可更换夹具的电动升降装置 14、热电偶 ：热电偶探头与样品平台为同一热沉，测控温度与样品温度保持一致 15、无电极样品尺寸：直径小于40mm，厚度小于8mm 16、带电极样品尺寸： 直径小于26mm，厚度小于8mm 17、软件功能：自动分析数据，可以分类保存，样品和测量方案结合在一起，生成系统所需的实验方案，输出TXT、XLS、BMP等格式文件 18、测量方案： 提供灵活、丰富的测试设置功能，包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合 19、标准极化样品：8片（10mm*1.5mm） 20、配套设备装置：能够配合ZJ-3和ZJ-6压电测试仪进行测量 21、配套设备装置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM压片夹具 23、测试频率：20HZ-10MHZ 24、测试电平:100mV—2V 25、分辨率：1MHZ 26、输出阻抗: 100Ω 27、测试参数：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc 28、基本准确度: 0.05% 29、显示:液晶显示 30、参数测量：多功能图形和参数测量 31、接口方式: RS232C或HANDLER |
HTIM-600C型材料高温电阻率测试仪主要技术参数 | HTIM-600C型材料高温电阻率测试仪 关键词：电阻率，体电阻，表面电阻，CNAS HTIM-600高温电阻率测试仪是一款针对于材料的测量设备，可以出具CNAS整体的材料高温测量设备，该仪器采用使用方法多样化，2000V，6.4ms的采集系统，实现了是以往产品300倍的抗干扰功能6.4ms的高速测量，作为皮安表使用进行低电容检查，2×10^19 Ω显示，0.1fA分辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行设计的悬浮式电路，能不受测量环境影响进行稳定测量，并且运用在产线中实现高速测量。可实现绝缘材料在高温下电阻和电阻率试验方法标准设计开发，可以直接测量高温、真空、气氛条件下样品的电阻和体电阻率、漏电流等随温度、时间变化的曲线，高温绝缘材料电阻率测试仪系统已经在航天航空传感器领域得到很好的应用。 一、主要用途：适用于新材料评估的特性: 1、用于陶瓷元件的絶縁劣化试验 2、贴片电容的IR测量 3、MLCC（多层陶瓷电容器）的绝缘测量 4、光伏电池薄膜的绝缘测量 5、噪音滤波器的绝缘（高阻）测量 6、液晶设备的绝缘测量 7、涂层（涂料）的表面电阻率测量 8、外壳的带电度的测量 9、二极管的微笑泄漏电流测量 10、光电耦合器的初级/次级绝缘（高电阻）测量 11、打印机墨粉辊轴的绝缘测量 12、用于针对半导体厂家的绝缘密封件的评估试验 13、用于组装在贴片机、分选机、自动化设备中 一、产品特点： 1、多种使用方法的超绝缘计,提供CNAS计量合格证书 2、能够作为IR表、静电计等高电阻计，以及作为皮安表这种微小电流计来使用，使用方法非常丰富的测量仪器。 2、能不受测量环境影响进行稳定测量，并且运用在产线中实现高速测量2000V输出 3、偏差1/60，抗噪音性能300倍, 通过全新的SM悬浮式电路和三轴连接器的组合，大幅提高抗噪音性能。 4、输出电压从0.1V到1000V，能够以0.1V为单位任意设置 5、6.4ms的高速检查, 高速检查和50mA的预充电功能的组合可以实现高产量的MLCC检查。 5、高温炉膛，耐高温、抗氧化的测试夹具,提供CNAS计量合格证书 二、主要技术参数： 1、体积电阻率和表面电阻率测试范围10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm； 2、测试电压：10V、50V、100V、250V、500V、1000V 3、电极材质：600℃不氧化，三电极尺寸为25mm（被保护电极直径）、38mm（保护电极内径）、50mm（保护电极外径），样品厚度在3mm以内； 3、测量：①电阻≤1010Ω时，±5％；电阻>1010Ω时，±10%；②电压＜100V时，±5%，电压≥100V时，±2％； 2、温度范围;室温~600℃； 3、控温：温度≤300℃，±1℃，温度＞300℃，±2℃；控温设备需有测温口；（能够通过计量CNAS） 4、测试软件：①可设置连续升温测试，得到不同温度下体积电阻率、表面电阻率具体值，直接得到体积电阻率-温度曲线、表面电阻率-温度曲线； 5、温度：可设置在某一具体温度点测试，得到体积电阻率、表面电阻率在不同时间点的具体值，直接得到体积电阻率-时间曲线、表面电阻率-时间曲线； 5、电脑要求：windows10 系统，内存16G以上，CPU四核； 6、升温速率0℃/min~ 10℃/min（不做计量要求）； 7、能通氮气，测试时在高温和氮气环境下测试； 9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410标准； 10、排气口有过滤装置； |
HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪技术参数 | HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪 关键词：电阻率，导电，合金高温 电阻率表征技术是典型的金属、合金相变行为研究手段，比如在先进钢中的碳运动行为分析、或是合金析出动力学研究、以及形状记忆合金的预相变行为表征的方面。电阻率对这些相变行为则非常敏感，应用电阻率手段研究合金析出动力学行为也是非常重要的手段，是一种可以对合金时效析出过程全时段实现监控的手段。同时，通过电阻率的演化规律，可以清晰的判断GP区、析出孕育时间、析出结束（析出量大）和熟化过程等不同的阶段。对于所有析出强化合金，电阻率数据都可以提供重要的工艺指导。此外，预相变过程中出现纳米畴并导致模量软化和弛豫内耗行为，特别是在相变初期，用电镜观察很难实现，而纳米畴的出现却表现为电阻率的升高，因此通过电阻率演化可以清晰的表征纳米畴出现的温度和畴面积的演化过程。 HTRT-1000本系统主要由高高稳定度的小电流源、高AD采样芯片以及嵌入式芯片，上位机智能管理分析软件、真空多段温控加热设备组成的金属电阻率智能存储分析仪器。测试金属样品根据测试工艺要求任意设定加热、降温曲线，通过过程中电阻率的精密测量，完成对金属内部结构变化如相变、碳化物、固溶度等特性的分析。 一、用途： 1、棒材、管材、异型材金属导电性能测量 2、金属材料研究 3、碳系导电材料的电阻率和电导率测量 4、金属氧化物系导电材料的电阻率和电导率测量 5、石墨烯金属材料的导电性能测试 二、器成套组成： 1.温度控制箱：任意设定多段加热、保温曲线，加热范围:室温至1000℃。控温±1oC。 2.真空加热炉管：采用石英真空管实现真空密闭状态，达到6*10-2Pa。 3.控制信号盒：高的恒流源200uA-10mA,通过计算机通信控制实现连续可调（或定制），测量到1uΩ。 4.计算机：通信控制温控仪加热曲线，实时接收当前温度值并存储显示。结合温度值显示电阻率-温度曲线。同时存储过程的测试条件信息，测试过程的数据。完成数据库的基本管理、查询、打印等功能。 5. 低温装置：低温实验可延伸-150℃，完成高低温实验功能。 6. app远程监控：手机app完成对实验设备主要参数的监控，不必守在炉子旁边也能了解实验目前的状态。 7.适用于科研单位、高等院校对金属材料的导电性能、微结构变化、相变信息等测试。 三、基本技术参数 1、控温范围；-150 ℃-1000 ℃，：-150 ℃-1000 ℃，±1 ℃ 2、测量范围：电 阻：1×10-6～1×10-1 Ω ， 分辨率：1×10-7Ω 电阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分辨率：1×10-8 3、 材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm 4、 四线探针；0.5 mm-0.7mm 5、夹具：针对不同的样品可以设计不同的夹具 6、外形尺寸：主 机 1300mm（长）×800 mm（宽）×500mm（高） 7、净 重：≤60kg |
BKTEM-T1型热电赛贝系数测试仪 | BKTEM-T1型热电赛贝系数测试仪以测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系数及电导率. 应用范围：1、地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。 3、块体和薄膜材料测均可以测试。 4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。 5、拥有自分析软件，独立分析，过程自动控制，界面友好。 6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。 7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷. 技术指标要求 测量温度： 室温-600℃ 同时测试样品数量： 1个 测量功能： 材料赛贝克系数和电阻率Seebeck系数及电导率 控温： 0.5K 测量原理： 塞贝克系数：静态直流电；电阻系数：四端法 测量： 塞贝克系数：＜±7％；电阻系数：＜±10％ 样品尺寸; 块体方条形：2-3×2-3 mm×10-23mm长，薄膜材料：≥50 nm 热电偶导距: ≥6 mm 电 流； 0 to 160 mA 加热电极相数/电压： 单相，220V， |