ZKSJD-600型全自动高低温介电温谱仪
关键词：高低温，介电温谱，-190℃-600℃，薄膜，块体
ZKSJD-600型全自动高低温介电温谱仪是中科院声学所研发的一款高低温介电温谱仪用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。测温范围从-190℃-600℃，满足目前极端条件下测试的要求，
同时高低温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台，高温测试夹具与WK6500TonghuiSolartron1260LCRTH2826/2827/TH2810Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A测量设备无缝连接，实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可以为用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样，是实验室开发和研究新材料的重要测量手段。在生产质量控制和优化上也是强有力的工具。
一、产品特点：
1）高温介电温谱仪-高温介电测量系统；
2）测量高，控温，测量频率宽，抗交流干扰；
3）介电软件功能强大，拥有完善的测量系统；
4）直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线；
5）直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的Cole-Cole图；
6）直接得出机械品质因数Qm；
7）集方案、测量、分析、数字化显示于一体集成化设计；
8）自主研发设计电极系统，重复性更好，稳定性更高；
9）高温、宽频下测量材料的介电性能；
10）只能测量一个样品，测量准确度更高；
11）高温介电测量系统与安捷伦、稳科阻抗产品wan美兼容；
12）多种温度选型，软件升级。
二、主要技术参数：
温度范围 -190℃-600℃
控温 ±1℃
频率范围：20Hz-50MHz
测量：0.05%
控温方式 连续升温和分段升温
测量 0.1℃
升温斜率 0-10℃min（典型值3℃min）
控温方式 PID控温
显示控制 电脑直接显示
数据接口 USB接口
冷却方式 液氮
降温斜率 0-1℃/mim（典型值3℃/min）
测量：0.05%
测量原理：平行板电容器原理
供电:220V±10%,50Hz
工作环境:0℃-55℃
样品尺寸:φ≤15min，d=3mm
测量方式:2线-4线测量
电极材料:铂金
仪器尺寸:750×550×560
温度：-190℃-600℃