教育领域重大设备更新实施方案设备采购资料

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(GDPT-900A变温压电D33测试仪,铁电,介电)


高校、职业院校的设备更新项目批复通知GDPT-900A变温压电D33测试仪,铁电,介电。具体资料和技术如下:


产品名称



招标技术参数

GDPT-900A型变温压电d33测量系统主要介绍

GDPT-900A型变温压电d33测量系统是我院研制的即可低温测试D33系数,又可以高温测试D33系数。主要是针对高低温压电陶瓷材料和薄膜材料的测试。

二、主要应用领域:无损检测超声检测,医疗超声检测,航空航天,石油天然器,汽车物联网,工业





GDPT-900A型变温压电d33测量系统主要技术参数

1、d33测量范围:1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力显示:0.01-4N

3、电源:电压220V

4、温度范围:温度-100℃至+500℃

5、温控:温度显示0.01℃,温度控制±0.1℃,温度漂移优于±0.1℃内,超调≤0.1℃。

6、升温斜率:0.00至5.00℃/min,典型值2.00℃/min。

7、间隔保温:0.10至50.00℃/点,保温5分钟即可达到温度稳定状态。

8、样品夹具:夹持双面电极样品,直径小于30mm,厚度小于5mm。

9、测量环境:低温、高温、空气等。

10、电极材料:耐高温电极。

11、制冷方式:液氮控制系统

12、显示:液晶显示

13、采集方式:USB2.0高速数据

14、总重量: 15kg左右。

15、软件:专用软件自动测试温度与压电系数的关系变化


高温铁电材料测量系统

GWTF-300GWTF-300         GWJDN-1000型宽频高温介电测量系统

关键词:高温介电,


GWJDN-1000型高温介电测量系统(2019款)高温介电测量系统应用于高温环境下材料、器件的导电、介电特性测量与分析,通过配置不同的测试设备,完成不同参数的测试。是高温介电测试系统测试装置,是国家科研院所和高等学府的重要材料测试设备。

一、主要用途:

1、测量以下参数随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律:

2、测量电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、电导(G)、电纳(B)、导纳(Y)、损耗因子(D)、品质因素(Q)等参数,

3、同时计算获得反应材料导电、介电性能的复介电常数(εr)和介质损耗(D)参数。

4、可测试低温环境下材料、器件的介电性能

5、可以根据用户需求,定制开发居里温度点Tc、机电耦合系数Kp、机械品质因素Qm及磁导率μ等参数的测量与分析。系统集低温环境、温度控制、样品安装于一体;具有体积小、操作简单控温高等特点。

二、主要技术参数:

主要技术参数:

1、温度范围: 室温-1000℃

2、测温: 0.1℃

3.升温速度: 1—20℃/min

4、控温模式: 程序控制,提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式

5、通讯接口: RS-485

8、电极材质: 铂铱合金

9、上电极: 直径1.6mm球头电极,引线带同轴屏蔽层

10、下电极:直径26.8mm平面电极,引线带同轴屏蔽层

11、保护电极:  带保护电极,消除寄生电容、边界电容对测试的影响

12、电极干扰屏蔽:电极引线带同轴屏蔽,样品平台带屏蔽罩

13、夹具升降控制: 带程序和手动控制,可更换夹具的电动升降装置

14、热电偶 :热电偶探头与样品平台为同一热沉,测控温度与样品温度保持一致

15、无电极样品尺寸:直径小于40mm,厚度小于8mm

16、带电极样品尺寸: 直径小于26mm,厚度小于8mm

17、软件功能:自动分析数据,可以分类保存,样品和测量方案结合在一起,生成系统所需的实验方案,输出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、测量方案:    提供灵活、丰富的测试设置功能,包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合

19、标准极化样品:8片(10mm*1.5mm)

20、配套设备装置:能够配合ZJ-3和ZJ-6压电测试仪进行测量

21、配套设备装置:可以配置10MM,20MM,30MM,40MM压片夹具

23、测试频率:20HZ-10MHZ

24、测试电平:100mV—2V

25、分辨率:1MHZ

26、输出阻抗:  100Ω

27、测试参数:Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本准确度: 0.05%

29、显示:液晶显示

30、参数测量:多功能图形和参数测量

31、接口方式: RS232C或HANDLER




HTIM-600C型材料高温电阻率测试仪主要技术参数


HTIM-600C型材料高温电阻率测试仪

关键词:电阻率,体电阻,表面电阻,CNAS


HTIM-600高温电阻率测试仪是一款针对于材料的测量设备,可以出具CNAS整体的材料高温测量设备,该仪器采用使用方法多样化,2000V,6.4ms的采集系统,实现了是以往产品300倍的抗干扰功能6.4ms的高速测量,作为皮安表使用进行低电容检查,2×10^19 Ω显示,0.1fA分辨率标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行设计的悬浮式电路,能不受测量环境影响进行稳定测量,并且运用在产线中实现高速测量。可实现绝缘材料在高温下电阻和电阻率试验方法标准设计开发,可以直接测量高温、真空、气氛条件下样品的电阻和体电阻率、漏电流等随温度、时间变那撸呶戮挡牧系缱杪什馐砸窍低骋丫诤教旌娇沾衅髁煊虻玫胶芎玫挠τ谩?

一、主要用途:适用于新材料评估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化试验

2、贴片电容的IR测量

3、MLCC(多层陶瓷电容器)的绝缘测量

4、光伏电池薄膜的绝缘测量

5、噪音滤波器的绝缘(高阻)测量

6、液晶设备的绝缘测量

7、涂层(涂料)的表面电阻率测量

8、外壳的带电度的测量

9、二极管的微笑泄漏电流测量

10、光电耦合器的初级/次级绝缘(高电阻)测量

11、打印机墨粉辊轴的绝缘测量

12、用于针对半导体厂家的绝缘密封件的评估试验

13、用于组装在贴片机、分选机、自动化设备中

一、产品特点:

1、多种使用方法的超绝缘计,提供CNAS计量合格证书

2、能够作为IR表、静电计等高电阻计,以及作为皮安表这种微小电流计来使用,使用方法非常丰富的测量仪器。

2、能不受测量环境影响进行稳定测量,并且运用在产线中实现高速测量2000V输出

3、偏差1/60,抗噪音性能300倍, 通过全新的SM悬浮式电路和三轴连接器的组合,大幅提高抗噪音性能。

4、输出电压从0.1V到1000V,能够以0.1V为单位任意设置

5、6.4ms的高速检查, 高速检查和50mA的预充电功能的组合可以实现高产量的MLCC检查。

5、高温炉膛,耐高温、抗氧化的测试夹具,提供CNAS计量合格证书

二、主要技术参数:

1、体积电阻率和表面电阻率测试范围10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm;

2、测试电压:10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、电极材质:600℃不氧化,三电极尺寸为25mm(被保护电极直径)、38mm(保护电极内径)、50mm(保护电极外径),样品厚度在3mm以内;

3、测量:①电阻≤1010Ω时,±5%;电阻>1010Ω时,±10%;②电压<100V时,±5%,电压≥100V时,±2%;

2、温度范围;室温~600℃;

3、控温:温度≤300℃,±1℃,温度>300℃,±2℃;控温设备需有测温口;(能够通过计量CNAS)

4、测试软件:①可设置连续升温测试,得到不同温度下体积电阻率、表面电阻率具体值,直接得到体积电阻率-温度曲线、表面电阻率-温度曲线;

5、温度:可设置在某一具体温度点测试,得到体积电阻率、表面电阻率在不同时间点的具体值,直接得到体积电阻率-时间曲线、表面电阻率-时间曲线;

5、电脑要求:windows10 系统,内存16G以上,CPU四核;

6、升温速率0℃/min~ 10℃/min(不做计量要求);

7、能通氮气,测试时在高温和氮气环境下测试;

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410标准;

10、排气口有过滤装置;


HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪技术参数

HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪

关键词:电阻率,导电,合金高温


电阻率表征技术是典型的金属、合金相变行为研究手段,比如在先进钢中的碳运动行为分析、或是合金析出动力学研究、以及形状记忆合金的预相变行为表征的方面。电阻率对这些相变行为则非常敏感,应用电阻率手段研究合金析出动力学行为也是非常重要的手段,是一种可以对合金时效析出过程全时段实现监控的手段。同时,通过电阻率的演化规律,可以清晰的判断HTRT-1000本系统主要由高高稳定度的小电流源、高 

:室温至1oC。

6*10-2Pa。

200uA-10mA,通过计算机通信控制实现连续可调(或定制),测量到4.计算机:通信控制温控仪加热曲线,实时接收当前温度值并存储显示。结合温度值显示电阻率5. 低温装置:低温实验可延伸6. app远程监控:手机 

1、控温范围;℃℃,:℃℃,±℃

  阻:10-6~10-1 Ω1×1×1×-mm, 分辨率:10-8

 材料尺寸:4、 四线探针;0.5 mm-0.7mm 

6、外形尺寸:主  1300mm(长)×500mm(高)

   重:≤<span font-size:16px;"="">60kg




BKTEM-T1型热电赛贝系数测试仪


BKTEM-T1型热电赛贝系数测试仪以测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系数及电导率.

应用范围:1、测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。

3、块体和薄膜材料测均可以测试。

4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

5、拥有自分析软件,独立分析,过程自动控制,界面友好。

6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。

7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.
8、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域

技术指标要求

测量温度:   室温-600℃

同时测试样品数量:  1个

测量功能:   材料赛贝克系数和电阻率Seebeck系数及电导率

控温:   0.5K

测量原理:   塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法

测量:   塞贝克系数:<±7%;电阻系数:<±10%

样品尺寸; 块体方条形:2-3×2-3 mm×10-23mm长,薄膜材料:≥50 nm

热电偶导距:  ≥6 mm

电   流; 0 to 160 mA

加热电极相数/电压:        单相,220V,