BKTEM-D3A型高温材料热电性能测试仪
关键词：赛贝克系数测试仪，热电材料，高温热电
塞贝克效应也叫热电效应，两个不同的电导体或半导体之间的温差在两种物质之间产生电压差，当热量施加到两个导体或半导体中的一个时，加热的电子便会流向较冷的导体或半导体。热电材料的研究在能量保存和能源替代方面有着重要的作用,而热电系数是热电材料的主要参数之一通过研究不同温度下的热电系数并配合理论模型可得到载流子类型和能带结构信息等.主要应用于能源效率,替代能源,汽车和燃料消耗等研究.
BKTEM-D3A型高温材料热电性能测试仪是一款集成度高的，应用对于热电材料热电性质参数赛贝克系数和电导率进行测量。
主要应用领域：
1、·半导体行业
2、·能源和环境工程
3、·热电测量
4、制冷行业
5、大学研究与教学
6、材料：半导体、金属与合金
7、工业领域：汽车/航空/航天，开发研究和学术研究，半导体行业/传感器/热电发电机/制冷设备
二：仪器测试原理结构图
三：主要热电材料体系：
Bi2Te3/Sb2Te3体系
PbTe体系
SiGe体系
CoSb3为代表的方钻矿型热电材料
Zn4Sb3
技术特点：
· 可控温场下可同步测量赛贝克系数和电阻率
· 标准配置进口商用吉时利（Keithley ）数采仪表，避免电路板集成数据采集技术带来的干扰误差
Keithley技术：
100nV rms 噪音本底
直流电压灵敏度低至 10nV，基本为 0.002%（90天）
7ppm DCV 可重复性，基本 1 年 DCV 准确度：0.0028%
读取速度范围：2k 读数/秒；
温度分辨率：0.001℃；
交流电压分辨率：0.1μV
电阻分辨率：1 μΩ
电流分辨率：1nA
低功耗欧姆测量模式
弱电流电路测试功能
偏置补偿欧姆功能
检定低压元件又快又准确
提高测量的置信度
以低至 100μA 的源电流测量低阻抗，减少设备自发热
进行电阻测量时控制测试电压，避免击穿可能已形成的任何氧化物或膜
消除会在系统环境中进行低电平电阻测量时产生错误的热效应
提供更的低电阻测量
· 标配进口商用电流源（ADCMT），非电路板集成恒流源，避免无法精准输出小电流而产生热效应和测不准
· 恒流源参数：0.000-220mA；恒流设置分辨率：100nA；恒流稳定性：0.008+20nA/天
· 温度范围：RT up to 1200℃
· 控温速率：0.01 –100K/min，可以节约用户测试时间
· 配置垂直放样结构，上下样品支架夹持
· 测量范围：赛贝克系数：0.5μV/K-25V/K；电阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm
· 0-80K温差范围可任意设置温差值及温差点的个数
· U-I曲线自动扫描，计算出合适的电流数值， 可以测量电导率；不会对大电阻样品产生误差
· 铂金大电极设计，和样品可充分接触，对于不均匀样品也可获得良好的导电测试
· 热电偶间距可以根据样品尺寸调节后固定，满足不同科研要求
·：赛贝克系数：±7%；电导系数：±7%（热电材料测试，非康铜标样）；
· 重复性：3%
· 应用程序控温技术，包括温差和测量步进等要求
· 自由升/降温、控制温度程序，进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
· 热电偶探针可选K、S、R型（无需铠装）配置，不会产生非常大的接触电阻
· 自动压力安全保护设计，进口美国航天级硬件配置，确保测试过程中不会发生爆炸
· 测量系统：柱状、片状、长方体、薄膜等系统可选
技术规格
温度范围 | RT up to 1200°C | |
控温速率 | 0.01 – 100k/min | |
控温 | +/-0.25K | |
测量方法 | 赛贝克系数：静态直流电 | 电阻系数：四端法 |
测量范围 | 赛贝克系数：0.5μV/K-25V/K | 电阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm |
分辨率 | 赛贝克系数：10nV/K | 电阻率：10nOhmm |
赛贝克系数： ± 5 % | 电导系数：± 7 % | |
重复性 | 3% | |
电流 | 0 to 220 mA（可控精准≤0.005mA） 恒流设置分辨率：100nA 恒流稳定性：0.008+20nA/天 | |
数据采集 | 100nV rms 噪音本底 直流电压灵敏度低至 10nV，基本为 0.002%（90天） 7ppm DCV 可重复性，基本 1 年 DCV 准确度：0.0028% 读取速度范围：2k 读数/秒 温度分辨率：0.001℃； 交流电压分辨率：0.1μV 电阻分辨率：1 μΩ 电流分辨率：1nA | |
气氛 | He、氧化、还原、真空(多种可选) | |
真空度 | 10E-3mbar | |
样品尺寸 | 直径或正方形：2 to 4 mm ；长度：6 to 22mm |