扫频下薄膜介电常数及损耗曲线的重要性和意义
扫频下薄膜介电常数及损耗曲线的重要性和意义
关键词：薄膜介电, 介电常数, 损耗,曲线图
扫频下薄膜介电常数及损耗曲线的重要性和意义
薄膜是一种薄的材料层，通常用于电子器件、光学器件和太阳能电池等领域。薄膜的介电常数是描述其在电场中所表现出的电介质性质的物理量。介电常数是用于衡量材料对电场的响应能力的指标，即材料对外界电场的感应程度。在薄膜的应用中，其介电常数的大小直接影响着薄膜的电学特性以及相应器件的性能。
薄膜介电常数是指薄膜材料在无限大频率下的介电常数。它是由材料的极化效应所决定的，描述了材料在电场作用下的极化程度。介电常数可以分为实部和虚部，分别对应薄膜材料的介电极化性质和耗散性质。实部反映了材料在电场下的极化程度，而虚部则代表了能量损耗。
薄膜介电常数的测量是通过对薄膜材料在不同频率下的电容或电感进行测量来实现的。常见的测量方法包括电容法、斯托克斯法和微波谐振腔法。这些方法可以提供薄膜在特定频率范围内的介电常数值，并能够确定其实部和虚部的大小。
薄膜介电常数的测量是通过对薄膜材料在不同频率下的电容或电感进行测量来实现的。常见的测量方法包括电容法、斯托克斯法和微波谐振腔法。这些方法可以提供薄膜在特定频率范围内的介电常数值，并能够确定其实部和虚部的大小。
JKZC-BMZD01型薄膜介电常数（ε）及损耗测试仪（tgd）
三电极结构设计：
微调千分尺：微调千分尺具备0.001mm的调节，可精细化调节上下电极之间的距离。
平行板测试电极：下电极固定在底部支撑座，上电极可由微调千分尺调节行程距离。上电极带有保护电极。
上电极片：上电极标配有2mm球头电极、φ26.8mm圆片电极和φ38mm圆片电极。可根据样品大小随时更换。
锁紧装置：当样品放入上下电极之间后，可调节此锁紧装置，固定上下电极的调节行程。防止轻微移动引起的刻度偏差。
严格按照ASTM D150国际标准设计，电极表面镀金处理，导电性能好、抗氧化，使用寿命更长
一、真正的三电极设计
介电夹具基于ASTM D150标准试验方法，采用三电极法设计。上电极+下电极+保护电极，电极表面镀金处理，导电性能好、抗氧化。为消除测试连接线阻抗及连接线之间相互耦合对测试的影响，仪器与夹具电极连接采用4端对法。
得益于测试线缆和电极引线的良好屏蔽，屏蔽层直达测试电极端，因此获得更高的校准频率。
2.校准频率可达100MHz
适配的阻抗分析仪更加丰富，充分利用测试仪器的测试频率范围（20Hz-120MHz），以满足测试样品对更高频率的要求。
3.高调节行程
适配高微调千分尺，可调为0.001mm，
上电极可调行程为12mm，并带有锁紧装置，可有效锁定当前刻度位置，确保测试的稳定性和准确性。
标配26.8/38mm尺寸电极片，可满足不同尺寸样品测量，样品安装方便、简单
主要技术参数：
1、测试频率：DC~100MHz
2、样品要求：双面涂覆电极，保持平整、光滑
3、样品尺寸：2mm≤φ≤60mm，厚度≤10mm
4、电极圆片：无。有效面积：样品上下涂覆电极垂直重叠部分面积
5、误差分析：存在边缘电容，样品表面凹陷处被导电体填充
6、测试接口：4个SMA母头
7、上电极：φ2mm球头电极+φ26.8mm圆片电极+φ38mm圆片电极
8、保护电极：上电极带保护电极，电极表面镀金
9、上电极压力调节：12mm行程调节，用于上电极与样品良好的电性能接触
10、带电极样品尺寸：2mm≤φ≤60mm，厚度≤10m
11、设计标准：ASTM D150和D2149-97国际标准，GB/T1409-2006国家标准
12、电极结构：两平行板电极+保护电极，三电极结构
13、电极引线：同轴屏蔽线，消除电磁干扰对测试影响
14、下电极：φ60mm镀金圆片电极
15、上电极行程调节：12mm行程调节，用于样品安装
16、数据存储：数据库保存各类实验数据，同时输出TXT、XLS、BMP等格式文件，对实验数据提供丰富的查询与分析，输出图形与数据。